本發(fā)明屬于集成電路領(lǐng)域,涉及一種應(yīng)用于反熔絲FPGA的老煉篩選技術(shù)。包括:交叉反熔絲正偏應(yīng)力測試;反偏反熔絲反偏應(yīng)力測試;老煉運(yùn)行狀態(tài)IO波形監(jiān)測;反熔絲FPGA動(dòng)態(tài)老煉時(shí)序。通過老煉技術(shù),能使原有產(chǎn)品中存在的缺陷盡可能多的提前顯現(xiàn)出來,并剔除失效產(chǎn)品,進(jìn)而提高電子產(chǎn)品可靠性,降低故障率。
聲明:
“應(yīng)用于反熔絲FPGA老煉篩選技術(shù)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)