本發(fā)明提供一種風(fēng)電葉片后緣抗開裂設(shè)計方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),該方案通過建立有限元模型對風(fēng)電葉片后緣失效模式進(jìn)行預(yù)測,模擬風(fēng)電葉片疲勞動態(tài)過程,同時可有效量化葉片呼吸效應(yīng),最終完成風(fēng)電葉片的后緣抗開裂設(shè)計,徹底解決風(fēng)電葉片后緣及其相關(guān)結(jié)構(gòu)在葉片疲勞測試過程中的開裂問題。
聲明:
“風(fēng)電葉片后緣抗開裂設(shè)計方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)