本發(fā)明實(shí)施例公開了一種故障碼存儲(chǔ)的測(cè)試方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。其中,該方法包括:針對(duì)預(yù)先構(gòu)建的故障映射庫中記錄的每一故障識(shí)別變量,讀取待測(cè)電控單元基于該故障識(shí)別變量存儲(chǔ)的測(cè)試故障碼,故障映射庫中記錄有待測(cè)電控單元的每一故障識(shí)別變量與標(biāo)準(zhǔn)故障碼之間的映射關(guān)系;通過比對(duì)每一故障識(shí)別變量對(duì)應(yīng)的測(cè)試故障碼和標(biāo)準(zhǔn)故障碼,確定待測(cè)電控單元的故障碼存儲(chǔ)性能。本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案,實(shí)現(xiàn)電控單元上故障碼存儲(chǔ)的性能檢測(cè),無需預(yù)先為電控單元的每一故障碼編寫對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例,避免人為編寫測(cè)試用例的易錯(cuò)率,保證電控單元上故障碼存儲(chǔ)的準(zhǔn)確性和可靠性,提高電控單元上故障碼存儲(chǔ)測(cè)試的可擴(kuò)展性。
聲明:
“一種故障碼存儲(chǔ)的測(cè)試方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)