本發(fā)明提供了一種相控陣雷達TR組件自動測試裝置與方法,涉及電子設備測試技術領域,通過生成特定的射頻信號控制射頻開關的導通或關斷,梳理TR組件射頻信號傳輸路徑,并在射頻開關矩陣單元的內部設置功率衰減器和負載,最后由測試儀器通過測試儀器接口單元與相控陣雷達TR組件自動測試裝置相連,完成對TR組件性能參數的測試。通過本發(fā)明的技術方案,提高了檢測TR組件中各器件性能參數的檢測速率,提高了測試TR組件中各器件性能指標的可靠性和準確性,有利于降低因輸入功率過大而導致測試儀器損壞的可能性。
聲明:
“一種相控陣雷達TR組件自動測試裝置與方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)