一種用于使用微X射線熒光光譜法識(shí)別印刷線路組件中有害物質(zhì)的方法,該印刷線路組件具有多個(gè)分立部件(圖1)。使用微X射線熒光光譜法(Μ-XRF)和/或X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)光譜法作為檢測(cè)分析儀,用于識(shí)別在電子設(shè)備中的有關(guān)材料。通過響應(yīng)于參考數(shù)據(jù)庫中的信息將設(shè)備或組件在X、Y和Z的方向上移動(dòng)到探針下(130),來確定在該組件上選定位置的元素組成(125),以便分析所檢驗(yàn)的設(shè)備或組件,該探針被設(shè)置在距用于分析的每個(gè)選定位置的最佳分析距離處(120)。然后,使每個(gè)選定位置處的所確定元素組成與參考數(shù)據(jù)庫互相關(guān),并且將所檢測(cè)到的元素指定到該組件中的各種部件。
聲明:
“使用X射線微量分析來確定復(fù)雜結(jié)構(gòu)的化學(xué)成分的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)