本發(fā)明主要是提出一整套利用X-RAY衍射數(shù)據(jù)恢復(fù)、處理和研究晶體結(jié)構(gòu)中電荷密度空間分布的理論方法。并利用VISUAL BASIC語言編寫了整套計(jì)算程序。這一方法具有原理清晰,計(jì)算速度快,不需要對每一種元素進(jìn)行單獨(dú)處理,適用性廣,分析結(jié)果較為可靠的優(yōu)點(diǎn)。而基于此原理開發(fā)的RAINBOW ME程序包具有以下優(yōu)點(diǎn):1.用戶界面友好,操作方便。2.計(jì)算穩(wěn)定,便于擴(kuò)展升級。3.計(jì)算網(wǎng)格密度大(300×300×300)。4.節(jié)省內(nèi)存(<1GB)。5.由于使用了混基FOURIER變換技術(shù),對網(wǎng)格劃分沒有特定要求,可以依據(jù)樣品晶胞參數(shù)條件進(jìn)行靈活網(wǎng)格劃分。此理論方法和程序可用于物理學(xué)、化學(xué)、礦物學(xué)、材料學(xué)、醫(yī)藥研究、分子生物學(xué)等領(lǐng)域。
聲明:
“X射線衍射電荷密度恢復(fù)、處理及分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)