本發(fā)明公開了一種火山巖中活性SiO2含量的測定方法,包括以下步驟:由化學(xué)分析測定火山巖中全SiO2含量;用火山巖粉末X光衍射分析(XRD);在XRD圖譜中選取石英(2θ=67°—69°)獨立衍射峰的數(shù)據(jù)分析,計算衍射背景線以上的晶相面積與衍射峰線以下的全部物相面積之百分率即為SiO2晶相百分率;用差減法得到非晶相SiO2比例;利用公式活性SiO2含量=(全SiO2含量)*(非晶態(tài)SiO2比例),即得。本發(fā)明方法不受粉末顆粒細度等諸多外界因素的影響,只由材料內(nèi)在要素成分和非晶質(zhì)含量所決定,更加科學(xué)合理、精確、簡捷、方便;適用于評判火山巖或其它火山灰質(zhì)材料如礦渣等用作輔助膠凝材料的質(zhì)量優(yōu)劣。
聲明:
“火山巖中活性SiO2含量的測定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)