本實(shí)用新型提供一種超聲波無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,屬于元器件缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。所述無(wú)損檢測(cè)設(shè)備包括超聲波頭、移動(dòng)裝置、夾持裝置、底板和樣品池;所述超聲波頭位于所述移動(dòng)裝置上,用于產(chǎn)生并且檢測(cè)超聲波信號(hào);所述移動(dòng)裝置用于帶動(dòng)所述超聲波頭移動(dòng);所述夾持裝置用于夾持待測(cè)樣品;所述底板用于支撐所述待測(cè)樣品;所述樣品池用于容納所述待測(cè)樣品、底板和所述夾持裝置;所述夾持裝置包括固定部件和活動(dòng)部件,所述固定部件固定于所述底板上,所述活動(dòng)部件與所述固定部件相連接,以形成中空結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型提供的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,待測(cè)樣品掃描圖像清晰度高,可以自動(dòng)顯示待測(cè)樣品缺陷的位置及大小。
聲明:
“超聲波無(wú)損檢測(cè)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)