本申請實(shí)施例提供一種無損檢測的方法、系統(tǒng)、裝置、設(shè)備及介質(zhì),該方法包括:獲取多個介電參數(shù),其中,所述多個介電參數(shù)是通過對被檢測材料進(jìn)行檢測獲得的;根據(jù)所述多個介電參數(shù),獲得所述被檢測材料的目標(biāo)檢測頻率;使用所述目標(biāo)檢測頻率對所述被檢測材料進(jìn)行無損檢測,獲得檢測結(jié)果。通過本申請實(shí)施例中的方法能夠通過介電參數(shù)獲得目標(biāo)檢測頻率,進(jìn)而使用目標(biāo)檢測頻率對介電材料進(jìn)行無損檢測,提高檢測質(zhì)量。
聲明:
“無損檢測的方法、系統(tǒng)、裝置、設(shè)備及介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)