一種基于光學(xué)無損檢測的微結(jié)構(gòu)低重疊度三維拼接方法。其包括基于實(shí)驗(yàn)中測試機(jī)構(gòu)位移平臺(tái)的運(yùn)動(dòng)參數(shù)將結(jié)構(gòu)特征提取區(qū)域限制在測量過程中的重疊區(qū)域;在所述區(qū)域內(nèi),通過SURF算法進(jìn)行特征提??;在特征點(diǎn)匹配階段,根據(jù)測量系統(tǒng)位移平臺(tái)的不確定度進(jìn)一步提出縮小匹配點(diǎn)對(duì)搜索范圍的方法以提高特征點(diǎn)匹配可靠性并根據(jù)歐式距離最近鄰域法得到特征匹配點(diǎn);以重疊區(qū)域的局部連續(xù)性為依據(jù),通過STLS算法計(jì)算校正矩陣而得到最終拼接。本發(fā)明不但適用于特征豐富的結(jié)構(gòu),也適用于相似度高、特征不明顯的陣列型結(jié)構(gòu),可有效地消除誤匹配,提高拼接精度,所述的低重疊度可大大減少因重疊區(qū)域而帶來的可觀的額外測試時(shí)間,成功地實(shí)現(xiàn)大范圍測量。
聲明:
“基于光學(xué)無損檢測的微結(jié)構(gòu)低重疊度三維拼接方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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