本發(fā)明公開了一種高分子材料內(nèi)部缺陷無損檢測裝置,包括通過連接線依次順序連接的函數(shù)信號發(fā)生器、功率放大器和激振器,待測工件通過彈性繩索懸掛于支架上,待測工件下底面與激振器觸發(fā)端相接觸;多個加速度傳感器沿圓周均布粘貼于待測工件表面,加速度傳感器通過連接線與電荷放大器連接,電荷放大器通過連接線與數(shù)字信號處理裝置連接。本發(fā)明提供了一種在不破壞物料的前提下,對高分子材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行檢測的裝置,通過激振器對高分子材料產(chǎn)生的迫振,通過振型分析裝置可準(zhǔn)確獲得缺陷類型和發(fā)生位置。
聲明:
“高分子材料內(nèi)部缺陷無損檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)