本發(fā)明公開一種多頻激勵渦流場相位梯度譜無損檢測方法及系統(tǒng),所述方法首先獲取被測物體在不同激勵頻率下的正弦激勵電壓信號和平面掃描路徑各點處與所述正弦激勵電壓信號對應的感應電壓信號;其次利用數(shù)字相敏解調(diào)技術(shù),對所述感應電壓信號進行解調(diào),獲得相位值;然后將不同激勵頻率下的相位值做梯度變換,獲得平面內(nèi)沿X軸位置方向的相位梯度;最后根據(jù)不同激勵頻率下的沿X軸位置方向的相位梯度確定被測物體缺陷所在位置。本發(fā)明從二維的角度出發(fā),利用相位梯度識別出缺陷在被測樣件中所處的位置,相比于一維角度出發(fā),進一步提高了識別的準確度。
聲明:
“多頻激勵渦流場相位梯度譜無損檢測方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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