本發(fā)明涉及用于無損測(cè)試測(cè)試對(duì)象的體積的方法,在該無損測(cè)試過程期間測(cè)試對(duì)象的體積原始圖像100憑借適合的無損成像測(cè)試方法來記錄。然后,識(shí)別體積原始圖像的未歸因于測(cè)試對(duì)象材料的那些區(qū)域。檢查識(shí)別的區(qū)域是否完全嵌入要與測(cè)試對(duì)象材料關(guān)聯(lián)的區(qū)域中。如果必要的話,這樣的區(qū)域同化于要與測(cè)試對(duì)象材料關(guān)聯(lián)的那些區(qū)域,從而形成填充體積原始圖像。最后,生成體積原始圖像與填充體積原始圖像之間的差異103,從而形成第一缺陷圖像104。本發(fā)明的另外的主題是為了實(shí)施方法而配置的測(cè)試裝置。
聲明:
“用于無損測(cè)試測(cè)試對(duì)象的體積的方法和為了實(shí)施這樣的方法而配置的測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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