本發(fā)明公開了一種蘋果沖擊損傷面積的高光譜無損預(yù)測方法。本發(fā)明具體步驟包括:1)確定蘋果樣品的沖擊損傷面積;2)提取蘋果樣品受損與未受損區(qū)域的平均光譜;3)光譜分析;4)建立蘋果沖擊損傷面積的預(yù)測模型。本發(fā)明能夠快速、準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)對(duì)蘋果沖擊損傷面積的無損量化及預(yù)測,可為無損評(píng)估果實(shí)的機(jī)械損傷提供重要手段,也為高光譜成像技術(shù)應(yīng)用于農(nóng)產(chǎn)品領(lǐng)域提供借鑒。
聲明:
“蘋果沖擊損傷面積的高光譜無損預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)