一種粗晶材料超聲檢測(cè)的時(shí)頻分析處理方法,屬于超聲無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。先獲得優(yōu)質(zhì)時(shí)頻圖像,再時(shí)頻圖像缺陷信息提取,最后缺陷信息的A型顯示。本發(fā)明共由三個(gè)技術(shù)步驟組成,因此簡(jiǎn)稱為“三步法”。該方法具有更強(qiáng)的小缺陷發(fā)現(xiàn)能力和更好的信噪比增強(qiáng)效果,且克服了分離譜技術(shù)的參數(shù)敏感性問題,比傳統(tǒng)的分離譜技術(shù)具有更強(qiáng)的缺陷發(fā)現(xiàn)能力,可以檢測(cè)粗晶材料中更微小的缺陷,具有非常好的信噪比增強(qiáng)效果,且由于摒棄了分離譜技術(shù)的非線性統(tǒng)計(jì)處理,避免了分離譜技術(shù)的參數(shù)敏感性問題,在航空航天、核工業(yè)、石油化工等大量應(yīng)用粗晶材料的重要部門具有廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“粗晶材料超聲檢測(cè)時(shí)頻分析處理方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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