本發(fā)明提供了一種基于二階模式波的薄板結(jié)構(gòu)超聲TOFD檢測盲區(qū)抑制方法,屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法采用由超聲探傷儀、TOFD探頭、有機玻璃傾斜楔塊和掃查裝置組成的TOFD檢測檢測系統(tǒng),沿待測薄板工件表面實施B掃查與信號采集,獲得不同掃查位置處的A掃描信號集合。利用費馬定理、斯涅爾定律與波型轉(zhuǎn)換原理求解不同掃查位置處的二階模式波最短傳播聲時與界面出射點位置,進而結(jié)合模擬退火算法確定晶片接收點與盲區(qū)內(nèi)缺陷端點深度。與現(xiàn)有的可替代TOFD技術(shù)相比,該方法能夠有效抑制薄板結(jié)構(gòu)檢測盲區(qū)并實現(xiàn)近表面缺陷深度定量,具有較高的工程應用價值。
聲明:
“基于二階模式波的薄板結(jié)構(gòu)超聲TOFD檢測盲區(qū)抑制方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)