本發(fā)明涉及化學(xué)檢測領(lǐng)域,尤其涉及一種表面覆膜金片金含量及金質(zhì)量的快速測定方法;本發(fā)明通過對表面鍍膜金片進行脫膜前處理,再利用X射線熒光光譜法進行金含量檢測;其中脫膜前處理溶膠步驟只針對膜上的膠體反應(yīng),對金層無反應(yīng),不僅能夠快速便捷的將膜與金層分離,且能較大程度的保持金層的完整;脫膜的金片可以便捷進行X射線熒光光譜檢測,解決了覆膜帶來的測試結(jié)果失真問題,而且能準確的測出金質(zhì)量,均很好的滿足了快速、準確、無損耗的檢測要求。
聲明:
“表面覆膜金片金含量及金質(zhì)量的快速測定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)