本發(fā)明公開了一種太赫茲探測陣列校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法,屬于太赫茲探測校準(zhǔn)技術(shù)領(lǐng)域,包括校準(zhǔn)組件、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動組件和導(dǎo)電組件,所述校準(zhǔn)組件包括常溫輻射板與高溫輻射板,所述常溫輻射板與所述高溫輻射板尺寸相同正對設(shè)置,所述常溫輻射板與所述高溫輻射板的兩端均對應(yīng)連接,所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動組件與所述常溫輻射板、所述高溫輻射板的一端連接。本發(fā)明利用常溫輻射板和高溫輻射板輻射的太赫茲波的強(qiáng)度的不同,對太赫茲探測陣列中各個(gè)通道單元進(jìn)行校準(zhǔn),有效的解決現(xiàn)有太赫茲探測陣列定標(biāo)過程復(fù)雜,并且隨著溫度環(huán)境的變化需重復(fù)定標(biāo)等缺點(diǎn),可在太赫茲安檢、太赫茲無損探傷和太赫茲雷達(dá)等領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。
聲明:
“太赫茲探測陣列校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)