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SMD5032晶體振蕩器振動試驗下電性能監(jiān)測實現裝置和方法

842   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網  
2023-03-19 08:58:32
本發(fā)明公開一種SMD5032晶體振蕩器振動試驗下電性能監(jiān)測實現裝置和方法,用于解決現有SMD7050封裝晶體振蕩器產品振動試驗下電性能監(jiān)測裝置無法測試SMD5032封裝晶體振蕩器問題,該裝置包括固定部件、裝置主體和底座,固定部件包括金屬壓條和固定螺絲,裝置主體包括測試座、控制電路模塊、印制板、電路板電源線、電路板邏輯控制線和電路板頻率輸出電纜線,測試座和控制電路模塊安裝在印制板上,金屬壓條通過固定螺絲將裝置主體固定在底座上。本發(fā)明還提供一種監(jiān)測方法。本發(fā)明可以對SMD5032封裝晶體振蕩器振動狀態(tài)下進行無損傷的、精確的電性能監(jiān)測,具有測試無損傷、測試穩(wěn)定性好、操作快捷方便、測試效率高等特點和優(yōu)勢。
聲明:
“SMD5032晶體振蕩器振動試驗下電性能監(jiān)測實現裝置和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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