本實(shí)用新型公開一種采用可控硅做無觸點(diǎn)開關(guān)的探傷儀探頭,屬于工業(yè)無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,包括探頭外殼,探頭外殼的外部設(shè)有探頭插座和磁極,探頭外殼的內(nèi)部設(shè)有可控硅元件和探頭線圈,可控硅元件連接探頭線圈,探頭外殼的外部設(shè)有一開關(guān),可控硅元件連接開關(guān),探頭線圈同時(shí)連接AC電源供電,采用可控硅元件做無觸點(diǎn)開關(guān),利用可控硅元件觸發(fā)電流小,導(dǎo)通電流大,過零點(diǎn)關(guān)斷的特點(diǎn),解決了探傷儀探頭上開關(guān)使用壽命有限的技術(shù)問題。
聲明:
“采用可控硅做無觸點(diǎn)開關(guān)的探傷儀探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)