本發(fā)明涉及一種失效分析標(biāo)準(zhǔn)流程調(diào)整方法及系統(tǒng),屬于失效分析技術(shù)領(lǐng)域,解決了現(xiàn)有失效分析標(biāo)準(zhǔn)流程無法動態(tài)調(diào)整和生成問題。包括基于歷史維修記錄獲取故障點(diǎn)的良率,通過聚類分析故障點(diǎn)的良率,得到故障點(diǎn)中的正常點(diǎn),統(tǒng)計(jì)正常點(diǎn)的故障發(fā)生概率;基于失效分析知識圖譜,將正常點(diǎn)的故障發(fā)生概率作為相應(yīng)檢測步驟實(shí)體的故障發(fā)生概率;根據(jù)檢測步驟實(shí)體及實(shí)體間的關(guān)系,獲取各檢測流程下具有順序的檢測步驟,作為初始步驟集合;根據(jù)檢測步驟實(shí)體的故障發(fā)生概率,對初始步驟集合中的檢測步驟順序進(jìn)行調(diào)整,根據(jù)調(diào)整后的初始步驟集合,得到各檢測流程下調(diào)整后的失效
分析檢測流程。實(shí)現(xiàn)了失效分析標(biāo)準(zhǔn)流程的動態(tài)調(diào)整。
聲明:
“失效分析標(biāo)準(zhǔn)流程調(diào)整方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)