本文所揭示的方面包含高速緩沖存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測(cè)電路,用于在失效操作之后檢測(cè)高速緩沖存儲(chǔ)器中的有效指示符(例如有效位)中的位翻轉(zhuǎn)。還揭示相關(guān)方法和基于處理器的系統(tǒng)。如果高速緩存命中是因失效操作之后對(duì)高速緩存條目的存取而產(chǎn)生,那么所述高速緩存條目的有效指示符中已發(fā)生位翻轉(zhuǎn)。這是因?yàn)樵谒龈咚倬彺鏃l目的所述失效操作之后,所述有效指示符應(yīng)指示無(wú)效狀態(tài),而非有效狀態(tài)。因此,高速緩沖存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測(cè)電路經(jīng)配置以確定是否對(duì)所述高速緩存條目執(zhí)行失效操作。因此,所述高速緩沖存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測(cè)電路可致使產(chǎn)生所存取高速緩存條目的高速緩沖存儲(chǔ)器未中或錯(cuò)誤,即使用于所述高速緩存條目的有效指示符因所述位翻轉(zhuǎn)而指示有效狀態(tài)也是如此。
聲明:
“用于在失效操作之后檢測(cè)高速緩沖存儲(chǔ)器中的有效指示符中的位翻轉(zhuǎn)的高速緩沖存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測(cè)電路,以及相關(guān)方法和基于處理器的系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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