本發(fā)明公開(kāi)了一種基于自振蕩回路的電路老化測(cè)試方法,其特征是:根據(jù)靜態(tài)時(shí)序分析和路徑間相關(guān)性,選取待測(cè)電路中的老化特征通路集合T;保持老化特征通路集合T中各條待測(cè)路徑上具有奇數(shù)次邏輯非,形成自振蕩的回路;采用固定型故障的測(cè)試生成方法,生成測(cè)試向量,激發(fā)自振蕩回路,產(chǎn)生測(cè)試電平信號(hào);通過(guò)計(jì)數(shù)器采樣自振蕩回路,獲取電路老化特征值,度量待測(cè)電路老化程度。本發(fā)明可以以較低的功耗精確度量電路的老化程度,為電路老化失效防護(hù)提供準(zhǔn)確的依據(jù)。
聲明:
“基于自振蕩回路的電路老化測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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