本發(fā)明公開了一種可持續(xù)利用多用探測(cè)卡,包括:基座、對(duì)準(zhǔn)卡、針托架、緩沖框、緩沖墊和固定卡;對(duì)準(zhǔn)卡套設(shè)于
芯片的外部并能夠?qū)⑿酒潭ㄓ诨?;針托架上設(shè)置有測(cè)試針,測(cè)試針的一端位于芯片的頂部且緩沖框覆蓋于對(duì)準(zhǔn)卡的頂部以使得測(cè)試針、對(duì)準(zhǔn)卡相接觸,測(cè)試針的另一端通過連接孔固定于基座上;緩沖框的兩側(cè)分布有緩沖墊,固定卡位于緩沖墊的頂部以使得緩沖墊固定于基座的頂部。該可持續(xù)利用多用探測(cè)卡能夠重復(fù)地對(duì)芯片進(jìn)行失效分析,同時(shí)成本低。
聲明:
“可持續(xù)利用多用探測(cè)卡” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)