本發(fā)明提供了一種LED驅(qū)動(dòng)電源壽命預(yù)測(cè)方法和裝置,所述方法包括:給LED驅(qū)動(dòng)電源的電解電容套上局部烤箱,施加一個(gè)預(yù)設(shè)的恒定溫度,程控電源給LED驅(qū)動(dòng)電源提供穩(wěn)定的電壓,使LED驅(qū)動(dòng)電源正常工作,LED驅(qū)動(dòng)電源接電子負(fù)載,檢測(cè)電解電容正引腳溫度和LED驅(qū)動(dòng)電源輸出電流紋波,電流紋波變化率達(dá)到設(shè)定值時(shí),LED驅(qū)動(dòng)電源失效,失效時(shí)間即為特征壽命,更換LED驅(qū)動(dòng)電源進(jìn)行下一個(gè)溫度的測(cè)試,如此反復(fù)多次,匹配數(shù)學(xué)模型,擬合出相應(yīng)的壽命曲線。本發(fā)明能夠以較少的測(cè)量數(shù)據(jù)和簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)模型推算出LED驅(qū)動(dòng)電源壽命,方便有效。
聲明:
“LED驅(qū)動(dòng)電源壽命預(yù)測(cè)方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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