本發(fā)明公開了一種同軸連接器電接觸阻抗特性退化規(guī)律的建模方法,所述方法包括:(1)提出一種同軸連接器電接觸阻抗特性退化規(guī)律的實(shí)驗(yàn)方法,主要包括:1、提出一種同軸連接器的接觸退化加速試驗(yàn)方法;2、提出一種同軸連接器的阻抗測試方案。(2)提出一套同軸連接器阻抗特性退化規(guī)律的建模方法,主要包括:1、建立一個(gè)同軸連接器電接觸失效阻抗模型;2、計(jì)算得到不同退化程度下的模型參數(shù)及其退化規(guī)律,并從物理機(jī)理的角度證明模型的準(zhǔn)確性。本發(fā)明采用實(shí)驗(yàn)測試及理論分析相結(jié)合的方法,形成一套全面分析同軸連接器電接觸阻抗特性退化規(guī)律的建模方法,該方法適用于通信系統(tǒng)中各類同軸連接器,并且能夠?yàn)檫B接器的故障判定提供新的參考指標(biāo)。
聲明:
“同軸連接器電接觸阻抗特性退化規(guī)律的建模方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)