本發(fā)明公開了一種剔除曲面擴(kuò)散影響的金屬晶粒尺寸超聲衰減評價方法,所述方法通過對平面標(biāo)定金屬試塊進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,利用所采集的一次及二次底波信號提取試驗總衰減譜,運用多元高斯聲束理論建立曲面試塊擴(kuò)散衰減模型,進(jìn)而得到剔除擴(kuò)散衰減分量的散射衰減譜,運用散射衰減譜計算晶粒尺寸評價函數(shù),建立晶粒尺寸多頻加權(quán)評價模型,最后運用所建立的晶粒尺寸多頻加權(quán)評價模型對晶粒尺寸未知的曲面測試試塊進(jìn)行晶粒尺寸評價。該方法能減小系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差,針對金相法測定晶粒尺寸為124.43?μm的6種不同曲率試塊,該方法評價相對誤差均值為4.28%??梢?,本發(fā)明提供的方法有效抑制了曲面擴(kuò)散對晶粒尺寸評價的影響,提高了曲面金屬晶粒尺寸無損評價的精度。
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“剔除曲面擴(kuò)散影響的金屬晶粒尺寸超聲衰減評價方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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