本發(fā)明公開了一種保留時(shí)間鎖定-氣相色譜-四極桿質(zhì)譜-選擇性離子掃描進(jìn)行化學(xué)輪廓分析的方法,首先采用氣相色譜-質(zhì)譜全掃描方法分析質(zhì)量控制樣品,采用質(zhì)譜自動(dòng)去卷積和峰識(shí)別系統(tǒng)對(duì)獲得的全掃描信息進(jìn)行質(zhì)譜去卷積和峰識(shí)別,從AMDIS的結(jié)果文件中提取識(shí)別的化合物所對(duì)應(yīng)的色譜保留時(shí)間信息,并根據(jù)該信息對(duì)不同保留時(shí)間的色譜峰進(jìn)行分組;然后從原始數(shù)據(jù)文件中提取質(zhì)譜信息,進(jìn)行特征離子選定。建立保留時(shí)間鎖定的GC-MS方法并對(duì)待分析的所有樣品在該方法下進(jìn)行選擇離子檢測(cè)。本發(fā)明使得采用氣相色譜-質(zhì)譜得到的化學(xué)輪廓分析數(shù)據(jù)的可靠性、有效性和可操作性得到提高。本方法也可推廣到以液相色譜-質(zhì)譜為基礎(chǔ)的化學(xué)輪廓分析。
聲明:
“基于保留時(shí)間鎖定-氣相色譜-四極桿質(zhì)譜選擇性離子掃描的化學(xué)輪廓分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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