本發(fā)明提供了一種電阻器抗輻照能力無損篩選方法及裝置,方法包括:獲取作為隨機(jī)子樣的電阻器輻照前的電阻值和1/f噪聲電壓功率譜幅值;獲取作為隨機(jī)子樣的電阻器經(jīng)過輻照后的電阻值;基于輻照前的電阻器的電阻值和經(jīng)過輻照后的電阻器的電阻值,計(jì)算輻照前后的電阻值漂移量;以1/f噪聲電壓功率譜幅值作為信息參數(shù),以電阻值漂移量作為輻照性能參數(shù),建立多元線性回歸方程,并計(jì)算線性回歸方程中的系數(shù)向量;基于系數(shù)向量,建立信息參數(shù)和輻照性能參數(shù)之間的無損篩選回歸預(yù)測方程;利用所述無損篩選回歸預(yù)測方程,對同批其他電阻器器件進(jìn)行篩選。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)在對電阻器無損壞的前提下,進(jìn)行對元器件準(zhǔn)確、高效的抗輻照能力的測試篩選。
聲明:
“電阻器抗輻照能力無損篩選方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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