本發(fā)明公開了一種渦輪葉片內腔殘芯檢測方法及系統(tǒng),涉及葉片無損檢測技術領域,所述方法,包括:獲取目標溫度場分布圖像;目標溫度場分布圖像是對處于第一設定條件下的目標渦輪葉片進行溫度采集得到的;第一設定條件為目標渦輪葉片處于第一設定溫度下的冷氣流中,且向目標渦輪葉片內通入第二設定溫度的熱氣流;將目標溫度場分布圖像與無殘芯溫度場分布圖像進行對比,確定目標渦輪葉片內部是否存在殘芯。本發(fā)明能實現對渦輪葉片內腔殘芯的高精度無損檢測。
聲明:
“渦輪葉片內腔殘芯檢測方法及系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)