本申請公開了一種MOS器件的測試方法、裝置、系統(tǒng)、設備和存儲介質,該方法包括:獲取測試器件的漏極電流,該漏極電流是向測試器件施加柵極電壓時測量得到的;根據(jù)柵極電壓和漏極電流計算得到測試器件的閾值電壓的測量值;獲取晶圓所在環(huán)境的環(huán)境溫度;調用預測模型對柵極電壓、柵極電壓對應的漏極電流和環(huán)境溫度進行處理,得到測試器件的閾值電壓的預測值,預測模型是根據(jù)測試組訓練得到的機器學習模型,測試組是對樣本器件進行測試得到的數(shù)據(jù),測試組包括量測數(shù)據(jù)和樣本器件對應的閾值電壓,量測數(shù)據(jù)包括施加于樣本器件的柵極電壓、樣本器件的柵極電壓對應的漏極電流以及樣本器件所在環(huán)境的環(huán)境溫度;根據(jù)測量值和預測值確定測試器件是否失效。
聲明:
“MOS器件的測試方法、裝置、系統(tǒng)、設備和存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)