權(quán)利要求書： 1.一種半導體元器件測試分揀設備，包括工作臺(1)和防護機構(gòu)，其特征在于，所述工作臺(1)的頂部設有料筒(2)，所述料筒(2)的一側(cè)設有下料盤(3)，所述料筒(2)的底部固定連接有滑料道(20)；

所述防護機構(gòu)包括兩個轉(zhuǎn)動桿(4)，兩個所述轉(zhuǎn)動桿(4)對稱轉(zhuǎn)動連接于滑料道(20)的兩側(cè)，兩個所述轉(zhuǎn)動桿(4)的對立面對稱轉(zhuǎn)動連接有安裝桿(5)，兩個所述安裝桿(5)之間固定連接有緩沖墊(6)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述料筒(2)的底部固定連接有倒T型支撐座(7)，所述倒T型支撐座(7)的底部與工作臺(1)的頂部固定連接，所述倒T型支撐座(7)的頂部開設有安裝槽，所述安裝槽的內(nèi)壁與滑料道(20)的外壁固定連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述下料盤(3)的底部設有驅(qū)動座(8)，所述驅(qū)動座(8)的底部與工作臺(1)的頂部固定連接，所述驅(qū)動座(8)的內(nèi)部開設有驅(qū)動腔，所述驅(qū)動腔的內(nèi)腔固定安裝有伺服電機(9)，所述伺服電機(9)的輸出端貫穿驅(qū)動腔內(nèi)壁的頂部并與下料盤(3)的底部傳動連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述下料盤(3)的頂部固定連接有固定環(huán)(10)，所述固定環(huán)(10)的外壁固定穿插連接有輸料通道(11)，所述輸料通道(11)的內(nèi)腔固定安裝有傳送帶(12)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述輸料通道(11)的頂部固定連接有測試攝像頭(13)，所述測試攝像頭(13)的一端與輸料通道(11)的頂部固定穿插連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述輸料通道(11)的一側(cè)固定連接有推料箱(14)，所述推料箱(14)的內(nèi)腔固定安裝有氣缸(15)，所述氣缸(15)的輸出端固定連接有推料桿(16)，所述輸料通道(11)的另一側(cè)固定連接有廢料管(17)。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述固定環(huán)(10)的一側(cè)固定連接有支撐柱(18)，所述支撐柱(18)的底部與工作臺(1)的頂部固定連接，所述輸料通道(11)的底部固定連接有支撐塊(19)，所述支撐塊(19)的底部與工作臺(1)的頂部固定連接。

說明書： 一種半導體元器件測試分揀設備技術(shù)領域[0001] 本實用新型涉及半導體元器件領域，特別涉及一種半導體元器件測試分揀設備。背景技術(shù)[0002] 半導體元器件是導電性介于良導電體與絕緣體之間，利用半導體材料特殊電特性來完成特定功能的電子器件，可用來產(chǎn)生、控制、接收、變換、放大信號和進行能量轉(zhuǎn)換。半

導體元器件的半導體材料是硅、鍺或砷化鎵，可用作整流器、振蕩器、發(fā)光器、放大器、測光

器等器材。

[0003] 半導體元器件在投入使用前，需要通過測試分揀機進行質(zhì)量的篩分工作，測試分揀機一般由下料機構(gòu)和分揀機構(gòu)組成，目前測試分揀機的下料機構(gòu)多由料筒和下料盤組

成，待測試分揀的半導體元器件需要從位于高處的料筒內(nèi)通過滑料道滑落至下料盤上，這

就會存在著部分半導體元器件因受到的沖擊力而損壞的現(xiàn)象，這就會降低半導體元器件的

測試通過率。

實用新型內(nèi)容

[0004] 本實用新型的目的在于提供一種半導體元器件測試分揀設備，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

[0005] 為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術(shù)方案：一種半導體元器件測試分揀設備，包括工作臺和防護機構(gòu)，所述工作臺的頂部設有料筒，所述料筒的一側(cè)設有下料盤，所

述料筒的底部固定連接有滑料道；

[0006] 所述防護機構(gòu)包括兩個轉(zhuǎn)動桿，兩個所述轉(zhuǎn)動桿對稱轉(zhuǎn)動連接于滑料道的兩側(cè)，兩個所述轉(zhuǎn)動桿的對立面對稱轉(zhuǎn)動連接有安裝桿，兩個所述安裝桿之間固定連接有緩沖

墊。

[0007] 優(yōu)選的，所述料筒的底部固定連接有倒T型支撐座，所述倒T型支撐座的底部與工作臺的頂部固定連接，所述倒T型支撐座的頂部開設有安裝槽，所述安裝槽的內(nèi)壁與滑料道

的外壁固定連接。

[0008] 優(yōu)選的，所述下料盤的底部設有驅(qū)動座，所述驅(qū)動座的底部與工作臺的頂部固定連接，所述驅(qū)動座的內(nèi)部開設有驅(qū)動腔，所述驅(qū)動腔的內(nèi)腔固定安裝有伺服電機，所述伺服

電機的輸出端貫穿驅(qū)動腔內(nèi)壁的頂部并與下料盤的底部傳動連接。

[0009] 優(yōu)選的，所述下料盤的頂部固定連接有固定環(huán)，所述固定環(huán)的外壁固定穿插連接有輸料通道，所述輸料通道的內(nèi)腔固定安裝有傳送帶。

[0010] 優(yōu)選的，所述輸料通道的頂部固定連接有測試攝像頭，所述測試攝像頭的一端與輸料通道的頂部固定穿插連接。

[0011] 優(yōu)選的，所述輸料通道的一側(cè)固定連接有推料箱，所述推料箱的內(nèi)腔固定安裝有氣缸，所述氣缸的輸出端固定連接有推料桿，所述輸料通道的另一側(cè)固定連接有廢料管。

[0012] 優(yōu)選的，所述固定環(huán)的一側(cè)固定連接有支撐柱，所述支撐柱的底部與工作臺的頂部固定連接，所述輸料通道的底部固定連接有支撐塊，所述支撐塊的底部與工作臺的頂部

固定連接。

[0013] 本實用新型的技術(shù)效果和優(yōu)點：[0014] (1)本實用新型利用轉(zhuǎn)動桿、安裝桿和緩沖墊的設置，通過轉(zhuǎn)動桿和安裝桿可以將緩沖墊轉(zhuǎn)動至滑料道的底部或正面，有效對從滑料道中滑落的半導體元器件起到了緩沖的

作用，減少了半導體元器件因沖擊而損壞的現(xiàn)象，提高了半導體元器件的測試通過率；

[0015] (2)本實用新型利用支撐柱和固定環(huán)的設置，通過支撐柱將固定環(huán)安裝在下料盤的上方，對下料盤上的半導體元器件起到的引流和防掉落的作用，提高了對半導體元器件

的防護強度。

附圖說明[0016] 圖1為本實用新型立體結(jié)構(gòu)示意圖。[0017] 圖2為本實用新型正面剖視結(jié)構(gòu)示意圖。[0018] 圖3為本實用新型緩沖墊側(cè)面剖視結(jié)構(gòu)示意圖。[0019] 圖4為本實用新型輸料通道俯面局部剖視結(jié)構(gòu)示意圖。[0020] 圖中：1、工作臺；2、料筒；3、下料盤；4、轉(zhuǎn)動桿；5、安裝桿；6、緩沖墊；7、T型支撐座；8、驅(qū)動座；9、伺服電機；10、固定環(huán)；11、輸料通道；12、傳送帶；13、測試攝像頭；14、推料箱；

15、氣缸；16、推料桿；17、廢料管；18、支撐柱；19、支撐塊；20、滑料道。

具體實施方式[0021] 下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的

實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├绢I域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下

所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。

[0022] 本實用新型提供了如圖1?4所示的一種半導體元器件測試分揀設備，包括工作臺1和防護機構(gòu)，防護機構(gòu)用于避免半導體元器件因滑落撞擊下料盤3而造成的損傷，工作臺1

的頂部設有料筒2，料筒2的底部固定連接有滑料道20，滑料道20傾斜設置，滑料道20需延伸

至下料盤3的上方，料筒2的底部固定連接有倒T型支撐座7，倒T型支撐座7對料筒2起支撐的

作用，倒T型支撐座7的底部與工作臺1的頂部固定連接，倒T型支撐座7的頂部開設有安裝

槽，安裝槽的內(nèi)壁與滑料道20的外壁固定連接，料筒2的一側(cè)設有下料盤3，下料盤3的底部

設有驅(qū)動座8，驅(qū)動座8用于安裝伺服電機9，驅(qū)動座8的底部與工作臺1的頂部固定連接，驅(qū)

動座8的內(nèi)部開設有驅(qū)動腔，驅(qū)動腔的內(nèi)腔固定安裝有伺服電機9，打開伺服電機9的外接開

關(guān)，伺服電機9會帶動下料盤3轉(zhuǎn)動，伺服電機9的輸出端貫穿驅(qū)動腔內(nèi)壁的頂部并與下料盤

3的底部傳動連接；

[0023] 防護機構(gòu)包括兩個轉(zhuǎn)動桿4，兩個轉(zhuǎn)動桿4對稱轉(zhuǎn)動連接于滑料道20的兩側(cè)，兩個轉(zhuǎn)動桿4的對立面對稱轉(zhuǎn)動連接有安裝桿5，轉(zhuǎn)動桿4和滑料道20之間以及轉(zhuǎn)動桿4和安裝桿

5之間均可發(fā)生轉(zhuǎn)動，增加了緩沖墊6可調(diào)節(jié)的范圍，兩個安裝桿5之間固定連接有緩沖墊6，

緩沖墊6可設置在滑料道20的下方，也可設置在滑料道20的端口處；

[0024] 下料盤3的頂部固定連接有固定環(huán)10，固定環(huán)10的一側(cè)固定連接有支撐柱18，支撐柱18的底部與工作臺1的頂部固定連接，固定環(huán)10的外壁固定穿插連接有輸料通道11，輸料

通道11的底部固定連接有支撐塊19，支撐塊19的底部與工作臺1的頂部固定連接，輸料通道

11的內(nèi)腔固定安裝有傳送帶12，輸料通道11的頂部固定連接有測試攝像頭13，測試攝像頭

13用于半導體元器件的測試工作，測試攝像頭13的一端與輸料通道11的頂部固定穿插連

接，輸料通道11的一側(cè)固定連接有推料箱14，推料箱14用于安裝氣缸15，推料箱14的內(nèi)腔固

定安裝有氣缸15，打開氣缸15的外接開關(guān)，氣缸15會通過推料桿16帶動不合格的半導體元

器件脫離傳送帶12，氣缸15的輸出端固定連接有推料桿16，輸料通道11的另一側(cè)固定連接

有廢料管17，廢料管17內(nèi)壁的底部為斜面。

[0025] 本實用新型工作原理：[0026] 當半導體元器件測試分揀機在進行工作時，首先對轉(zhuǎn)動桿4和安裝桿5施加轉(zhuǎn)向力，使緩沖墊6位于滑料道20的下方，之后往料筒2內(nèi)添加待測試分揀的半導體元器件，料筒

2內(nèi)半導體元器件會通過滑料道20滑落至下料盤3上，此過程中半導體元器件會先與緩沖墊

6接觸再運動至下料盤3上，之后打開伺服電機9的外接開關(guān)，伺服電機9會帶動下料盤3轉(zhuǎn)

動，下料盤3會帶動半導體元器件運動至輸料通道11內(nèi)的傳送帶12上，傳送帶12會帶動半導

體元器件繼續(xù)運動，當半導體元器件運動至測試攝像頭13的下方時，測試攝像頭13會對半

導體元器件進行測試工作，當檢測出半導體元器件不合格后，氣缸15會通過推料桿16將不

合格的半導體元器件推落至廢料管17內(nèi)，而合格的半導體元器件會繼續(xù)跟隨傳送帶12運動

至下一工序。

[0027] 在本實用新型的描述中，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“設置”、“安裝”、“相連”、“連接”、“固定”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或成一

體；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可

以是兩個元件內(nèi)部的連通或兩個元件的相互作用關(guān)系。對于本領域的普通技術(shù)人員而言，

可以具體情況理解上述術(shù)語在本實用新型中的具體含義。

[0028] 本實用新型使用到的標準零件均可以從市場上購買，異形件根據(jù)說明書的和附圖的記載均可以進行訂制。

[0029] 盡管已經(jīng)示出和描述了本實用新型的實施例，對于本領域的普通技術(shù)人員而言，可以理解在不脫離本實用新型的原理和精神的情況下可以對這些實施例進行多種變化、修

改、替換和變型，本實用新型的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。