本發(fā)明是一種具有光、電、熱性能的
功能材料基元的篩選方法。所述方法為確定不同溫度下材料基元的晶格的常數(shù);構(gòu)建材料基元的晶胞模型;對材料基元的光學(xué)性質(zhì)、導(dǎo)熱性質(zhì)和導(dǎo)電性質(zhì)進(jìn)行計算,獲得材料基元的性能與溫度的關(guān)系,并構(gòu)造數(shù)據(jù)庫;根據(jù)實際應(yīng)用需求篩選出具有指定性性能的功能基元;預(yù)測材料基元的熱穩(wěn)定性。本發(fā)明通過計算溫度對晶格參數(shù)的影響,獲得不同溫度下材料體系的結(jié)構(gòu)變化,進(jìn)而建立溫度與材料的結(jié)構(gòu)、性能之間的理論關(guān)系,為設(shè)計不同溫度下具有特殊性能的材料提供重要的理論指導(dǎo),避免大量的試錯實驗。該發(fā)明可用于光、電、熱、光熱、光電、熱電等材料相關(guān)的應(yīng)用領(lǐng)域以及滿足空間極端環(huán)境的航空航天方面的相關(guān)應(yīng)用領(lǐng)域。
聲明:
“具有光、電、熱性能的功能材料基元的篩選方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)