本實(shí)用新型涉及一種光電材料測(cè)試設(shè)備,具體涉及一種光電材料與器件多場(chǎng)耦合測(cè)試系統(tǒng),包括測(cè)試平臺(tái),所述測(cè)試平臺(tái)上設(shè)有6個(gè)探針通道,分別為2個(gè)交流通道、2個(gè)直流通道、1個(gè)光纖通道和1個(gè)微波通道,實(shí)現(xiàn)多通道光電
功能材料與器件的性能測(cè)試。本實(shí)用新型光電材料與器件多場(chǎng)耦合輸運(yùn)測(cè)試系統(tǒng),結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便,分別集成磁場(chǎng)、電場(chǎng)、溫度場(chǎng)、微波場(chǎng)及光場(chǎng)耦合系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)多場(chǎng)耦合條件下光電功能材料與器件的性能測(cè)試。
聲明:
“光電材料與器件多場(chǎng)耦合測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)