本發(fā)明公開(kāi)一種外場(chǎng)誘導(dǎo)下的非線性光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)由激光光源、前置光路處理模塊、功能樣品室、后置光路處理模塊、探測(cè)模塊、外場(chǎng)控制裝置、數(shù)據(jù)采集裝置、顯示處理裝置、暗盒等部分組成。該測(cè)試系統(tǒng)可進(jìn)行溫度、電場(chǎng)、磁場(chǎng)或力場(chǎng)等不同的外場(chǎng)加載,實(shí)現(xiàn)材料在不同外場(chǎng)誘導(dǎo)下的非線性光學(xué)性能測(cè)試,為評(píng)估新型
功能材料的綜合性能提供設(shè)備支持,有著迫切的應(yīng)用需求和廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“外場(chǎng)誘導(dǎo)下的非線性光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)