本發(fā)明涉及一種摩擦納米發(fā)電機(jī)驅(qū)動(dòng)的電介質(zhì)陷阱態(tài)測(cè)量和成像系統(tǒng)及方法，屬于電介質(zhì)技術(shù)領(lǐng)域。該系統(tǒng)包括陷阱激勵(lì)電源裝置和測(cè)試樣品室；陷阱激勵(lì)電源裝置包括獨(dú)立層旋轉(zhuǎn)式摩擦納米發(fā)電機(jī)與旋轉(zhuǎn)電動(dòng)機(jī)，能夠輸出恒電荷、高電壓，在電介質(zhì)表面激勵(lì)微功率的介質(zhì)阻擋均勻放電，使得電子充分入陷、脫陷，產(chǎn)生足夠強(qiáng)度且穩(wěn)定的脫陷電流脈沖；測(cè)試樣品室，用于固定被測(cè)電介質(zhì)薄膜，并提供可控填充氣體；測(cè)試電極結(jié)構(gòu)可拆卸，能夠更換不同測(cè)量模式的電極組；上下電極之間氣隙距離能夠調(diào)節(jié)。本系統(tǒng)具有無損、精準(zhǔn)、二維成像的優(yōu)勢(shì)，進(jìn)而獲取高聚物薄膜材料表面陷阱態(tài)分布的詳細(xì)信息，有助于功能材料的絕緣、儲(chǔ)能、微納表面特性等各項(xiàng)性能的檢測(cè)與提升。