本發(fā)明的目的在于提供在高溫環(huán)境下發(fā)光特性良好的高溫環(huán)境用閃爍體以及高溫環(huán)境下的放射線的測定方法。具體而言,本發(fā)明涉及一種高溫環(huán)境用閃爍體以及使用該閃爍體的高溫環(huán)境下的放射線測定方法,該高溫環(huán)境用閃爍體是以LiCaAlF6等為代表的、用化學(xué)式LiM1M2X6表示的氟鋁酸鈣鋰型晶體,并且根據(jù)需要含有Ce、Eu等鑭系元素,其中,M1是選自Mg、Ca、Sr和Ba中的至少一種堿土金屬元素,M2是選自Al、Ga和Sc中的至少一種金屬元素,X是選自F、Cl、Br和I中的至少一種鹵素元素。
聲明:
“閃爍體、放射線檢測裝置及放射線檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)