本發(fā)明公開了一種測(cè)試裝置和檢測(cè)系統(tǒng),屬于測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。測(cè)試裝置包括載物臺(tái)、第一測(cè)試模組和第二測(cè)試模組,載物臺(tái)用于放置電路板;第一測(cè)試模組,包括第一測(cè)試探針,所述第一測(cè)試探針位于所述載物臺(tái)的下方且能夠向上移動(dòng)與所述電路板的焊盤抵接,用于檢測(cè)所述焊盤;第二測(cè)試模組,包括第二測(cè)試探針,所述第二測(cè)試探針位于所述載物臺(tái)的下方且能夠向上移動(dòng)與所述電路板的連接器抵接,用于檢測(cè)所述連接器。采用第一測(cè)試探針和第二測(cè)試探針自動(dòng)運(yùn)行分別檢測(cè)焊盤和連接器,有效提升工作效率,統(tǒng)一檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),提高電路板性能檢測(cè)的可靠性,多通道同步測(cè)試在較短的時(shí)間內(nèi)完成所有測(cè)試項(xiàng),有利于電路板的批量化生產(chǎn)。
聲明:
“一種測(cè)試裝置和檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)