本公開(kāi)提供一種顯示裝置、顯示面板及顯示面板的檢測(cè)方法。該顯示面板可以包括顯示基板和集成
芯片。該顯示基板可以包括顯示區(qū)和外圍區(qū)。該外圍區(qū)可以圍繞顯示區(qū)。該外圍區(qū)可以設(shè)有觸控信號(hào)線和裂紋檢測(cè)線。該集成芯片可以設(shè)于外圍區(qū),且與觸控信號(hào)線和所述裂紋檢測(cè)線均連接。該集成芯片用于向裂紋檢測(cè)線輸出裂紋檢測(cè)信號(hào)。該集成芯片用于向觸控信號(hào)線輸出觸控驅(qū)動(dòng)信號(hào)。本公開(kāi)既可以對(duì)顯示基板進(jìn)行裂紋檢測(cè),也可以對(duì)顯示基板進(jìn)行觸控性能檢測(cè)。
聲明:
“顯示裝置、顯示面板及其檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)