本發(fā)明公開了一種基于強(qiáng)化學(xué)習(xí)雙模型結(jié)構(gòu)的集成電路直流分析方法及系統(tǒng),該方法使用雙模型強(qiáng)化學(xué)習(xí)算法來制定集成電路偽瞬態(tài)分析的步長控制策略。強(qiáng)化學(xué)習(xí)雙模型包括前進(jìn)模型和后退模型,以集成電路仿真的狀態(tài)變量作為模型輸入,判斷目前電路所處的狀態(tài)并輸出一個(gè)最優(yōu)的仿真步長。本發(fā)明提供的基于強(qiáng)化學(xué)習(xí)雙模型結(jié)構(gòu)的集成電路直流分析方法可以通過電路的不同狀態(tài)來自適應(yīng)步長的輸出,兩個(gè)模型引入公共樣本池來相互學(xué)習(xí)各自的經(jīng)驗(yàn),從而使得算法更快地收斂。將連續(xù)的步長輸出代替了傳統(tǒng)算法的離散步長輸出,可以更快地提高仿真效率,大大降低了牛頓拉夫遜法的迭代次數(shù)和仿真時(shí)間。
聲明:
“基于強(qiáng)化學(xué)習(xí)雙模型結(jié)構(gòu)的集成電路直流分析方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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