本發(fā)明公開了XRF微區(qū)分析在玻璃疵點(diǎn)檢測方面的應(yīng)用,包括疵點(diǎn)樣品數(shù)據(jù)分析和分析結(jié)果的對比,可以得出疵點(diǎn)方面能提供詳細(xì)的材質(zhì)數(shù)據(jù)和從而分析出玻璃元素中的成分變化將本發(fā)明涉及玻璃疵點(diǎn)檢測技術(shù)領(lǐng)域。該XRF微區(qū)分析在玻璃疵點(diǎn)檢測方面的應(yīng)用,解決了玻璃疵點(diǎn)尺寸通常情況下都較小,因此想要完成精確取樣十分困難,一般會夾帶十分多的基礎(chǔ)玻璃,導(dǎo)致檢測出來的疵點(diǎn)化學(xué)成分與基礎(chǔ)玻璃化學(xué)成分之間的差異十分微小,進(jìn)而難以判斷玻璃的真實(shí)化學(xué)成分,以及一些較難判斷來源的礦物及金屬夾雜物,需要送到一些實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行電子顯微鏡成分分析,確認(rèn)詳細(xì)的種類及方向,在這方面的時間上,往往需要耽擱較長時間的問題。
聲明:
“XRF微區(qū)分析在玻璃疵點(diǎn)檢測方面的應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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