本發(fā)明公開了一種用于微全分析系統(tǒng)
芯片的集成式安培檢測(cè)傳感器,集成式安培檢測(cè)傳感器由檢測(cè)探頭、參比電極、工作電極引線、輔助電極引線和傳感器外殼組成,工作電極引線通過工作電極引線孔焊接至工作電極,輔助電極引線通過輔助電極引線孔焊接至輔助電極,工作電極引線和輔助電極引線與
電化學(xué)工作站相連,參比電極外殼連接在傳感器探頭的環(huán)氧玻璃布的一側(cè),通過Ag/AgCl電極與電化學(xué)工作站連接,傳感器外殼在工作電極引線、參比電極外殼和輔助電極引線的外周設(shè)有傳感器外殼。本發(fā)明具有體積小、靈敏度高、檢測(cè)重現(xiàn)性與穩(wěn)定性好、集成化程度高、昂貴部件可回收等特點(diǎn),滿足多種離子及其化合物的便攜式、集成化檢測(cè)需求。
聲明:
“用于微全分析系統(tǒng)芯片的集成式安培檢測(cè)傳感器” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)