本實用新型提供一種用于檢測金屬罐體內(nèi)涂層缺陷的
電化學(xué)探頭,所述電化學(xué)探頭包括:兩端開口的中空管體,該中空管體一端口套設(shè)有橡皮管,另一端口被封堵部件所封堵,且該中空管體的管壁上開設(shè)有注液口;網(wǎng)狀輔助電極,所述網(wǎng)狀輔助電極呈中空筒狀套設(shè)于所述中空管體內(nèi),且所述網(wǎng)狀輔助電極接有輔助電極引線;參比電極,所述參比電極置于所述網(wǎng)狀輔助電極的中空筒體內(nèi),所述參比電極接有參比電極引線,且在所述參比電極引線外套設(shè)有絕緣管;其中,所述輔助電極引線和所述參比電極引線均通過所述封堵部件引出至所述中空管體外。本實用新型所提供的用于檢測金屬罐體內(nèi)涂層缺陷電化學(xué)探頭能夠靈敏檢測和精確定位金屬罐體內(nèi)涂層缺陷。
聲明:
“用于檢測金屬罐體內(nèi)涂層缺陷的電化學(xué)探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)