本發(fā)明涉及一種質(zhì)譜儀及其進樣機構(gòu)以及單顆粒物的檢測方法。進樣機構(gòu)包括粒子束形成裝置以及粒子束阻擋裝置。粒子束形成裝置具有粒子束形成通道以及分別設(shè)于粒子束形成通道的兩端的進樣口和粒子束出口。粒子束阻擋裝置包括擋板以及用于驅(qū)動擋板運動的驅(qū)動機構(gòu);擋板具有用于供粒子束穿過的第一通道。當擋板運動至第一通道與粒子束出口相對應(yīng)時,粒子束穿過第一通道;當擋板運動至第一通道與粒子束出口錯開時,粒子束由擋板阻擋。質(zhì)譜儀包括該進樣機構(gòu)、粒子加速電極以及檢測機構(gòu),使用該質(zhì)譜儀能夠準確檢測超細顆粒物中單顆粒物的空氣動力學(xué)粒徑和化學(xué)組成。
聲明:
“質(zhì)譜儀及其進樣機構(gòu)以及單顆粒物的檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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