本發(fā)明涉及一種空間微小碎片的探測方法,屬于空間環(huán)境探測技術(shù)領(lǐng)域。探測薄膜由上到下包括俘獲碎片層、過渡層和基底材料;俘獲碎片層材料為1~4μm厚的Au;基底材料材料為1~3mm厚的石英玻璃,過渡層材料為50~100nm厚的Ir;將探測薄膜搭載在航天器的迎風(fēng)面和背風(fēng)面上,經(jīng)過空間暴露后,攜帶回地面;地面分析采用二次離子質(zhì)譜或離子槍剖析下X射線光電子能譜的分析方法,獲得探測薄膜分析后數(shù)據(jù)與空間碎片的相關(guān)數(shù)據(jù)的對應(yīng)關(guān)系;從而獲得所俘獲碎片的化學(xué)組成。本發(fā)明利用低重量無功耗的探測薄膜,實(shí)現(xiàn)空間微小碎片的探測,俘獲碎片層所能俘獲并分析到的空間碎片為mg量級。
聲明:
“空間微小碎片的探測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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