本發(fā)明公開(kāi)了一種基于逐層減薄的金屬箔帶內(nèi)應(yīng)力分布測(cè)量方法,包括:通過(guò)用化學(xué)方法從大面積金屬箔帶上切下試樣小片,對(duì)其進(jìn)行單面均勻蝕刻,刻蝕多次,每次蝕刻去除相同厚度,測(cè)量蝕刻后試樣小片沿軋制方向的彎曲變形和曲率半徑,依次計(jì)算其從表面到內(nèi)部的內(nèi)應(yīng)力,從而獲得整個(gè)試樣厚度范圍內(nèi)的內(nèi)應(yīng)力分布。本發(fā)明提供的金屬箔帶內(nèi)應(yīng)力分布測(cè)量方法簡(jiǎn)單、低成本、快捷有效,不需要配備特殊設(shè)備和工具,采用常用表征手段就可以得出金屬箔帶整個(gè)厚度范圍的內(nèi)應(yīng)力分布,適用于厚度在50μm以下的多種純金屬及合金箔帶,可以為金屬箔帶的生產(chǎn)工藝優(yōu)化提供有效的參考數(shù)據(jù)。
聲明:
“基于逐層減薄的金屬箔帶內(nèi)應(yīng)力分布測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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