一種銅單晶的定向方法,步驟如下:(1)將銅單晶錠放入質(zhì)量濃度35~45%的硝酸中浸蝕,浸蝕時(shí)間以銅單晶錠表面出現(xiàn)至少一組取向一致的反光面為限,以一組反光面為參考面,在銅單晶錠上磨出一個(gè)平行于所述參考面的平面,定義該平面為初平面;(2)用X射線衍射儀對(duì)銅單晶錠上的初平面進(jìn)行X射線衍射θ-2θ聯(lián)動(dòng)掃描分析,將其X射線衍射譜圖中最強(qiáng)峰對(duì)應(yīng)的晶面指數(shù)(hkl)確定為定向晶面的晶面指數(shù);(3)采用X射線衍射回?cái)[法對(duì)銅單晶錠上的初平面進(jìn)行修正,獲法線平行于定向晶面(hkl)法線的最終修正面;(4)將所述最終修正面通過(guò)研磨與物理化學(xué)拋光去除表面的擾亂原子層,即獲得準(zhǔn)確定向的銅單晶晶面(hkl)。
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