本發(fā)明提出一種二維二硫化鎢薄膜晶界的鑒別方法。包括以下步驟:將S粉末放置在第一石英舟中,WO3粉末放置在第二石英舟中;將待鑒別的二維二硫化鎢薄膜樣品放入第三石英舟中;分別將三個石英舟放置在化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)的石英管內(nèi),通入氬氣作為載流氣體,并加熱對二維二硫化鎢薄膜進行二次生長,得到晶界明顯的二維二硫化鎢薄膜;利用光學(xué)顯微鏡直接觀測得到的二維二硫化鎢薄膜樣品,可以明顯分辨出二維二硫化鎢薄膜的晶界。本發(fā)明操作簡便,精確度高,對設(shè)備要求低,避免了用復(fù)雜的高精度儀器來探測二維材料的晶界。
聲明:
“二維二硫化鎢薄膜晶界的鑒別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)