本發(fā)明公開了一種基于生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)的光激勵(lì)紅外無損檢測方法,先通過光激勵(lì)紅外熱成像無損檢測系統(tǒng)在含有缺陷的被測試件上獲取原始紅外熱圖像序列,再對(duì)原始紅外熱圖像序列進(jìn)行預(yù)處理,形成訓(xùn)練數(shù)據(jù)集和標(biāo)簽數(shù)據(jù)集,然后搭建并訓(xùn)練改進(jìn)型生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)和判別網(wǎng)絡(luò),最后能夠?qū)崟r(shí)對(duì)不同的兩種試件的缺陷進(jìn)行分割,且分割的效果比現(xiàn)有模型更好。
聲明:
“基于生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)的光激勵(lì)紅外無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)