本發(fā)明提供一種無損檢測片狀金屬磁粉磁導(dǎo)率的方法,其特征在于:使片狀金屬磁粉在經(jīng)歷磁場取向步驟和徑向壓實(shí)步驟后成型為有序待測體,對有序待測體進(jìn)行電磁特性測試以獲得磁導(dǎo)率或能夠用于計(jì)算磁導(dǎo)率的參數(shù);磁場取向步驟為:使片狀金屬磁粉在磁場的作用下平行排列;徑向壓實(shí)步驟為:為片狀金屬磁粉提供徑向壓力;磁場取向步驟先于徑向壓實(shí)步驟開始實(shí)施,或,磁場取向步驟和徑向壓實(shí)步驟同時(shí)開始實(shí)施。片狀金屬磁粉在磁場的取向作用下按照一定的方向規(guī)整排布,更容易地被壓實(shí)成型,規(guī)整排布的片狀金屬磁粉更接近其在最終產(chǎn)品中的狀態(tài),能夠提高磁導(dǎo)率檢測的可靠性以及參考價(jià)值。制樣和檢測的過程皆不損傷片狀金屬磁粉,可以回收利用。
聲明:
“無損檢測片狀金屬磁粉磁導(dǎo)率的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)